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综合物性测量系统
2016-09-26 21:11   审核人:
设备编号 2014142100 仪器负责人 龙云泽
中文名称 综合物性测量系统  英文名称  Physical Property Measurement System
规格型号  Ever cool II 产地国别 美国
仪器安放地址 青岛大学中心校区西院博逸楼307
主要科学领域 材料的磁学、电学、热学等物性进行高精度的测量,可应用于材料科学、物理学、化学、电子学、半导体和地质学等领域。
主要技术指标

温度控制范围:1.9-350 K;温控精确度:±1%(从零场—9T); 温度扫描速度:最快达到12 K/min. 温度稳定性:±0.2% T< 10 K;±0.02% T> 10 K  系统磁场强度: 纵向磁体: ±9 T;场均匀性:±0.01% ;扫描速度: 1-200高斯/秒. 磁场分辨率: 0.02 mT,0

主要功能    在磁学性质方面可测量磁化强度随温度的变化M(T)、磁化强度随磁场的变化M(H)(磁滞洄线)、直流磁化率、磁各向异性等;在直流输运性质方面,可测量直流电阻、伏安特性、霍尔系数等;在交流输运性质方面,可测量交流电阻率、伏安特性、5线法霍尔效应等。 
 

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